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平板显示测量应用解决方案
通过ME-L穆勒矩阵椭偏仪可快速测量OLED电致发光层中多层膜膜厚和光学常数等;采用在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中。
  • 行业背景

        2009年-2014年,全球平板显示行业收入从921.12亿美元增长至1,310亿美元,产值规模不断扩大,已经成为产值超过千亿美元的成熟产业。全球平板显示产业经过快速发展阶段后,预计随后近十年,全球平板显示市场的增长将趋于平缓。经过近几年的技术发展,OLED屏幕终于成了业界追逐的新焦点。

        OLED材料具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、无视角限制、响应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点,因此被业界认为是最有发展前景的新型显示技术之一。OLED目前主要应用在手机,但由于电视尺寸大部分集中在大尺寸上,因此成为OLED未来产值增长最主要的驱动力。

    面临挑战

        OLED技术目前相对还不成熟,存在拼缝、成品率、成本高等问题,所以短期内对LED显示屏不构成威胁。这样势必加大OLED电致发光材料的研发投入,以及生产工艺的流程控制,降低成本,来增加产品的市场竞争力。因此会涉及到OLED电致发光层的各项重要指标需要有效测量,确保其材料质量;在OLED生产工艺中涉及到工艺控制整合,这样一方面确保产品的品质,另一方面降低生产成本,从而提高产品竞争力以及企业的生产整合效率。

    解决方案

        通过ME-L穆勒矩阵椭偏仪可以同时快速准确测量OLED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等;采用集成ME-L穆勒矩阵椭偏仪的在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中。

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    通过下图可获取不同测量点所对应波长位置的完整的吸收系数K值

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    客户价值

    通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数,确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制,可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中,大幅度降低企业生产成本并提高生产效率,确保产品的市场竞争力,实现企业价值最大化。

    关联产品与配置

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    ME-L穆勒矩阵椭偏仪



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