报告背景
以Si、Ge元素为代表的第一代半导体材料及以GaAs, GaP, InP等化合物为代表的第二代半导体材料,随着科学技术及相关产业的迅速发展,已不能满足现在电子产业的发展要求。以SiC、III-族氮化物、ZnO宽带隙半导体为代表的的第三代化合物半导体材料迅速发展起来。超宽禁带半导体氮化铝(AlN)和氧化镓(GaO)基材料, 亦称第四代半导体, 对其研究和探索正于热点和前沿。
2026年6月5日上午,美国肯尼索州立大学兼职教授, 台湾大学荣退教授、广西大学杰出教授冯哲川,受邀为武汉颐光科技有限公司的工程师们带来《超宽禁带和宽禁带及先进化合物半导体材料与结构的椭偏和FTIR反射光谱学研究》的主题报告。介绍冯教授团队多年来的应用椭偏光谱于AlN和GaO基与傅里叶变换红外(FTIR)反射光谱学于氮化镓和碳化硅外延材料以及II-VI和III-V半导体化合物和结构的研究和成果。
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