2025年11月14-16日，第十一届中国原子层沉积会议（C-ALD 2025）在中国广州圆满举办。

颐光产品

颐光科技受邀参加此次盛会，并携核心技术产品光谱椭偏仪亮相，吸引了众多学者及专业观众的关注。

光谱椭偏仪因其非接触、非破坏性的光学测量技术，能够实时、原位地测量薄膜的厚度和光学常数，是现代ALD研发和生产中不可或缺的质量控制与研究工具。颐光科技作为国内专业从事高端椭偏仪以及光学纳米测量设备研发、制造的高新技术企业，与众多国内ALD设备厂商建立了紧密的合作关系，超80%的ALD设备厂商正在使用颐光科技的光谱椭偏仪。

颐光科技将保持在ALD领域的技术先进性和创新活力，为越来越多的ALD用户提供更高效、更稳定、更贴合需求的设备与解决方案。

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