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颐光科技(3D39展位号)诚邀参加CIOE2020中国光博会
OPTICS NEWS
2020-09-02

颐光科技2020年9月2日

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武汉颐光科技有限公司(3D39展位号)诚邀参加CIOE 2020中国光博会


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武汉颐光科技有限公司
展位号:3D39



  • 穆勒矩阵椭偏仪

    ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,其采用行业最新最前沿的创新技术,包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。

  • SE-VM 光谱椭偏仪

    SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。



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