颐光科技2020年9月2日
武汉颐光科技有限公司（3D39展位号）诚邀参加CIOE 2020中国光博会
ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，其采用行业最新最前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。
SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。
鄂公网安备 42018502003616号
