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颐光科技应邀参加中国真空学会2016学术年会
OPTICS NEWS
2016-08-18

2016年8月12-14号中国真空学会(China Vacuum Society)学术年会暨第三次理事会在云南昆明召开。此次大会由中国真空学会主办,云南师范大学和北京大学承办,是我国真空科技界、企业界的一次盛会,本次会议展示了近两年来真空科技事业发展的最新成果。大会设有一个主会场和六个分会场,分会场涉及真空科技与工程、表面科学与应用、薄膜科学与技术、纳米科学与技术、电子材料与器件等离子体技术、显示技术等六个行业。

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 颐光科技总经理张传维博士在薄膜科学与技术分会场做了“穆勒矩阵椭偏仪及其在新型有机光电薄膜表征中的应用”的报告。报告中介绍了一种新型双旋转补偿器调制椭偏测量仪器——穆勒矩阵椭偏仪,从仪器偏振调制与解调制的原理,以及测量优势到其在新型薄膜光伏——有机光伏(OPV)、新型有机发光显示(OLED)中所涉及到的纳米量级超薄有机光电薄膜测量应用。并阐述穆勒矩阵椭偏仪对于有机薄膜分子取向导致的薄膜各向异性有很高的灵敏性,可直接测量分析得到有机薄膜各向异性的光学常数,以及在各向异性特征建模条件下更为精准的膜厚值。穆勒矩阵椭偏仪在新型有机光电薄膜的成功应用,表明了其在新材料、新工艺研究应用的有效性和实用性,在未来有机半导体材料进入产业应用后的薄膜工艺控制中必将发挥巨大作用。

椭偏仪|穆勒矩阵椭偏仪|膜厚仪|椭圆偏振光谱仪|薄膜厚度测量

颐光科技在此次展会中展示了近年来的部分科研技术以及高端椭偏仪系列产品。刘世元教授和张传维博士与参会科研院校、企业同仁进行了广泛的合作交流。

椭偏仪|穆勒矩阵椭偏仪|膜厚仪|椭圆偏振光谱仪|薄膜厚度测量

 

 

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