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    SE-VE光谱椭偏仪
    SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计,使用简便,一键快速测量向导交互式人机界面,便捷的软件操作体验丰富的材料数据库和算法模型库,强大的数据分
  • 概述

    SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。

    。超高性价比光学椭偏测量解决方案
    。紧凑集成化设计,极致用户操作体验
    。一键快速测量分析,人机交互设计,使用便捷
    。丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力

    产品特点

    采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm);

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    高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;

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    数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;

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    产品应用

    广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。

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    建议配件

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    温控台真空泵透射吸附组件
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    icon_pdf.gifSE-VE型光谱椭偏仪产品彩页.pdf

    文件大小: 2.46 MB
    版本: 1.8.1
    所需积分: 0


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