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    SE-VM光谱椭偏仪
    SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置,支持多功能模块定制化设计。
  • 一、概述

           SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪,其采用自主研发的椭偏创新技术,具备 双旋转补偿器同步控制技术2 透明基底消背反技术 等技术快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。

    ■  高精度椭偏测量解决方案;

      超高精度、快速无损测量;

    ■  支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制;

    ■  丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力。

    二、产品特点

    采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm),可支持扩展紫外到近红外范围 (193-2500nm);

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    ■  高精度双旋转补偿器调制、PCrSCrA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;

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    ■ 支持系列配置灵活,可根据不同应用场景支持多功能模块化定制;

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    ■ 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料。

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    三、产品应用

    SE-VM广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。

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    可选配件

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    ME-L.png

    温控台Mapping扩展模块真空泵透射吸附组件
  • SE-VM2.png

  •  下载链接


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      发布时间:2021-08-08 15:06

      永久有效


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