一、概况

AeroScan™ Duo FIB-SEM 双束显微镜系统采用全新的电子光学和离子光学成像和信号探测技术，具备快速成像和1.9nm 低能量电子束分辨率的先进性能，能为材料的高分辨率二维形貌和三维结构表征及高效快速 TEM 样品制备提供解决方案。

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  发布时间：2025-06-12 15:06

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