概述

作为穆勒矩阵椭偏仪/光谱椭偏仪/膜厚仪的配套组件，配合QCM（石英晶体微天平）联用，实时监控分子成膜物性。

特色功能

。根据QCM提供结构以及尺寸订制化；

。配合QCM检测，分子层质量以及成膜膜厚；

。定制兼容不同液体环境。

应用场景 

应用联用QCM各种液体环境下分子层生长成膜过程监测。

技术参数可参考

ME-L穆勒矩阵椭偏仪

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