2023年11月08日-10日在中国首都-北京盛大召开第四届亚太碳化硅及相关材料国际会议，会议聚焦宽禁带半导体材料及相关器件多学科主题，涵盖晶体及外延生长、材料特性、功率和光电子器件、封装模块、系统解决方案及应用等重点内容。

第四届亚太碳化硅及相关材料国际会议上，来自全球的科研人员和企业代表共同探讨了碳化硅及相关材料的最新技术和应用。此次会议聚集了众多业内顶尖专家，共同交流和分享最新的研究成果与经验。作为国内知名椭偏仪供应商，武汉颐光科技有限公司也应邀参加了此次盛会。

颐光展台

颐光科技，作为APCSCRM的老资格赞助商，在本次盛会上携公司SE-VM-L光谱椭偏仪以及SR-Mapping 反射膜厚仪亮相，吸引了众多专家、学者、工业客户及展商的关注。

颐光SIC领域解决方案

SiC 是一种宽禁带半导体材料，具有高电子迁移率、高击穿电场强度、高热稳定性等特性，因此在功率电子器件中得到广泛应用，SIC领域的高精度晶圆测试需求使得光谱椭偏仪成为了SIC领域薄膜量测的不二之选，而SE-VM-L这款椭偏仪作为颐光科技的杰出代表,具有高精度、稳定性强等优点，为用户提供了精确、快速的测量体验。除了测量功能强大外，SE-VM-L光谱椭偏仪还具有直观易用的界面和强大的数据处理能力，它支持多种数据格式输出，方便用户进行进一步的数据分析和处理。

其中SR-Mapping 反射膜厚仪能提供SIC领域中半导体级Mapping测量解决方案，应用于成膜设备、Fab级镀膜等大尺寸薄膜均匀性自定义多点分布测量。

颐光科技保持卓越的技术水平和创新能力，期待为更多的SIC用户提供更优质的产品和服务，为整个SIC行业的发展添砖加瓦！

会议现场