▶▶▶  报告单位简介  ◀◀◀

      武汉颐光科技有限公司是一家专业从事高端纳米光学测量仪器的研发、制造及销售的高新技术企业。2011年，公司团队前身所在的华中科技大学机械学院刘世元教授纳米光学测量课题组承担了首批国家重大科学仪器设备开发专项“宽光谱广义椭偏仪”（总经费3979万元）。经过4年多的努力，团队自主研制出国内第一台高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪。是国家重大科学仪器设备开发专项首批验收的三个项目之一。

      应科技部产业化要求，于2013年9月24日创立了武汉颐光科技有限公司，现有成员80%以上拥有硕士或博士学位，致力于高端椭偏仪系列产品的产业化，目前已实现了包括穆勒矩阵椭偏仪、光谱椭偏仪、光谱膜厚仪等在内的系列化椭偏仪产品的批量生产与销售。是中国国内最专业的技术研发团队，已得到国内外业内高度关注和认可。产品在国内多家高校科研院所获得应用，在半导体、面板显示、LED、光通讯、光学镀膜等行业也有诸多客户积累，服务于包括BOE、华星光电、天马微电子、浙江华显科技、诚志永华、合肥视涯、国华光电、瑞声科技、蓝思科技、富士康科技、业成光电、比亚迪、彩虹蓝光、青岛海信等行业龙头企业。

▶▶▶  报告人简介  ◀◀◀

     李伟奇，博士，现任武汉颐光科技有限公司技术总监。长期从事椭偏测量设备开发以及椭偏测量技术在新材料新结构中的应用研究，主持/参与了多项省部级科研课题，获国际国内发明专利16篇，发表SCI论文近10篇。

▶▶▶  报告内容简介  ◀◀◀

     聚酰亚胺薄膜具有良好的耐热性、耐辐射和电气性能，其优异的性能决定了它可以作为电子封装材料、集成电路中的介质材料及柔性基材等。伴随着目前OLED显示柔性发展的趋势，聚酰亚胺PI基板材料也成为目前最佳的柔性基板材料。对于PI薄膜的测量表征对于其工艺开发和优化具有重要意义，椭偏测量作为一种高精度的无损表征手段，在聚酰亚胺膜厚及其光学常数表征中得到越来越多的应用。

本报告会介绍椭偏仪测量原理及其在聚酰亚胺薄膜测量表征中的相关案例应用。

欢迎参加由DT新材料联合材视主办的《聚酰亚胺专题线上研讨会》。

会议时间为5月21日下午2:00-5:00，请大家提前安排时间。

本次活动采用Zoom视频软件，请参会人员提前下载安装Zoom软件，会议ID：940 9476 4031，方便大家交流，进入之前请修改备注：单位➕姓名。

谢谢大家的关注和支持！有问题随时联系我们！