2019年5月26日，武汉颐光科技一行赴巴塞罗巴参加第8届国际光谱椭偏大会（The 8th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, ICSE-8）。本次论坛旨在介绍椭偏分析技术的前沿进展，涉及偏振与椭偏研究的所有领域，包括基础理论、测量技术、信息提取、仪器开发和实际应用等多个方面，充分展示了在偏振与椭偏测量研究领域所取得的最新进展与成果。

武汉颐光科技董事长刘世元教授做了主题为"Layer-dependent dielectric functions of emerging 2D materials revealed by spectroscopic ellipsometry "的大会特邀报告，通过自主研制的高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪（已经由武汉颐光科技实现产业化）。首次揭示了晶圆级2D-MoS2介电函数的层数依赖规律。发现随MoS2层数的增加，其介电函数强度呈“W”状变化，这可归因为激子效应、节点态密度及质量密度三个因素随2D-MoS2厚度变化而交替竞争。

晶圆级高质量层数可控的2D-MoS2制备可加速其工业化应用进程，获取的2D-MoS2介电函数层数依赖规律有助于理解其物理本质，不仅展示了光谱椭偏测量方法的强大表征分析能力，也为2D-MoS2新型光电器件的优化设计提供了理论基础和指导作用。

国际椭偏大会创办于1993年，每隔3年举办一次，已连续举办了8届，是目前国际上最大规模的光谱椭偏学会议。本次大会共设大会主题报告10个，邀请报告和口头报告100余个，墙报报告190余个，吸引了来自美国、加拿大、德国、瑞典、日本、以及中国等数十个国家和地区500多位专家学者，2022年举办地点为北京，中国科学院力学研究所为主要承办单位，这是国际椭偏大会首次在中国举办，届时欢迎各位同仁参加盛会。

      大会网站地址：

https://congresses.icmab.es/icse8/speakers