2018年11月11日-13日，颐光科技一行赴清华大学深圳研究生院参加了"第三届全国偏振与椭偏测量研讨会"。本次会议由清华大学深圳研究生院、华中科技大学和北京大学联合主办，广东省偏振光学检测与成像工程技术研究中心、深圳市无损检测与微创医学技术重点实验室、华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室、北京大学地球与空间科学学院、暨南大学光电信息与传感广东普通高校重点实验室联合承办。这是继2016年“第二届全国偏振与椭偏测量研讨会”在广西大学召开后又一次全国范围的学术活动，不仅吸引了来自国内高校、科研院所和企事业单位的专家、学者，也吸引了来自美国、英国、西班牙等国的国外学者参加。研讨内容覆盖与偏振与椭偏研究的所有领域，包括基础理论、测量技术、信息提取、仪器开发和实际应用等多个方面，充分展示了在偏振与椭偏测量研究领域所取得的最新进展与成果。

颐光科技董事长刘世元教授担任本次大会共主席，做了题为“新型椭偏仪研制与应用：挑战与进展”的大会报告，详细介绍了最近两年在新型椭偏仪研制与应用研究的研究进展。一是研制了一种高分辨层析成像穆勒矩阵椭偏仪，将穆勒矩阵椭偏、光学散射测量和高分辨显微成像技术相结合，可实现多入射角、多方位角、多波长、多散射级次全穆勒矩阵测量，将横向分辨率突破至亚微米量级。二是研制了一种超快椭偏仪，通过结合啁啾频域干涉与椭偏测量技术，可实现具有皮秒时间分辨率的超快测量过程。最后，报告展示出在纳米结构特征尺寸及套刻误差测量、偏振器件偏振特性测量表征以及二维材料、钙钛矿等新型光电材料的光学性质表征等方面的应用实例。

颐光科技作为本次会议的主办方，展示公司多款主打型高精度椭偏测量设备、覆盖科研级以及工业级各式测量分析场景，引众多老师、学生以及技术人员驻足咨询与交流。

颐光科技愿承担起国产椭偏测量技术推广、培训和应用重任，力争成为国际上领先椭偏技术中重要的一环。

PS. #2020年，第四届全国偏振与椭偏测量研讨会预约于北京大学举办#