2015年8月21日至23日，武汉颐光科技有限公司携自主研发高端椭偏仪产品“高精度宽光谱全穆勒矩阵椭偏仪”参加了TFC’15全国薄膜技术学术研讨会。颐光科技创始人及首席科学家、华中科技大学教授刘世元博士受邀作了大会首个特邀报告“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪及其纳米结构薄膜表面测量方法研究”，展示了我公司在仪器研制及在功能光电子材料等多领域的应用工作，获得了与会行业内专家高度评价。

                                                                       图1 颐光科技创始人及首席科学家刘世元博士做特邀报告     

武汉颐光科技有限公司作为首批国家重大科学仪器设备开发专项“宽光谱穆勒矩阵椭偏仪设备开发”产业化单位，始终坚持自主创新，基于其十余年椭偏测量技术积累，面向纳米结构与纳米薄膜领域材料与器件研发和制造测量需求，为客户提供全面的先进椭偏测量解决方案。现场展出了公司主推产品ME-L型穆勒矩阵椭偏仪，吸引了从事光伏材料、电致变色材料、光学镀膜等方面材料研究学者及业界同行到颐光科技展位咨询和洽谈合作，与多个学术团队建立了良好的互动关系。

                                                                                                    图2 客户莅临颐光科技展台参观 

本届薄膜技术学术研讨会由中国真空学会薄膜专业委员会、中国硅酸盐学会薄膜与涂层分会主办，旨在为与会学者与行业专家搭建成果展示、技术交流、合作洽谈的平台。颐光科技借助此次薄膜技术学术研讨会的学术平台，在薄膜行业中充分展示了其先进椭偏测量技术，全力助推公司产品和服务在该领域的推广。