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    SR-M显微膜厚仪
  • 一、概述

    SR-M 针对特定微小区域,可提供微米级的聚焦光斑,同时利用显微物镜定位测量点,从而获取精准位置的厚度表征结果。

    ■ 光斑大小可进行定制,最小可达到10um;

    ■ 非接触、非破坏测量;

    ■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;

    ■ 配置灵活、支持定制化

    二、产品特点

    ■ 采用高强度卤素光源,光源稳定性好;

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    ■ 采用光机电高度整合一体化设计,体积小,操作简便;

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    ■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理,轻松解析单层薄膜到多层;


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    三、产品应用

    广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量


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