椭偏仪 作为高精度光学表征方式，可进行OLED 新材料光学特性膜厚以及光学常数研究。
椭偏仪可描述OLED发光材料薄膜的高分子取向导致各向异性材料
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分子形态与取向影响OLED电学与光学性能
快速精准表征连续波段的光学常数信息以及结构信息
工业上，OLED 有机蒸镀tooling校正应用也是“椭偏仪”大显身手的去处之一
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