2018年10月10日下午，湖北省科技厅副厅长彭泉、高新处处长戴新强、副处长胡安慰、科长粘来霞一行来我司进行调研，颐光科技董事长刘世元、总经理张传维参加了此次活动。研讨会将覆盖偏振与椭偏研究的所有领域，包括基础理论、测量技术、信息提取、仪器开发和实际应用等各个方面。

在本次调研过程中，颐光科技总经理张传维博士带领彭厅长一行参观了颐光科技生产中心、研发实验室，并介绍了公司的发展历程以及椭偏仪在IC、平板显示领域的应用。彭厅长指出，纳米薄膜测量技术是一项应用面极广的高端技术，纳米薄膜测量技术的研发具有国家战略意义，希望武汉颐光科技有限公司加大创新投入力度，抢抓发展机遇，在纳米薄膜测量技术的研发和应用上取得新的成果。

调研结束后，彭厅长对颐光科技在纳米薄膜测量领域形成的具有自主知识产权的核心技术表示了肯定与赞赏，颐光科技将不辱使命，努力创新，争做国际一流椭偏设备生产企业。